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失效分析过程中,样品形貌主要通过光学显微镜观察和记录,光学显微镜可以提供几倍到上千倍的放大倍数,另外光学显微镜对半导体的某些多层结构具有透明性,比如二氧化硅钝化层。光学显微镜要求样品是固体,在高倍观测时由于景深的限制,要求样品表面要平坦。应用显微镜一般是先通过低倍显微镜观察整体形貌和缺陷,然后用高倍....
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